cv曲線、cv量測方法、cv量測原理在PTT/mobile01評價與討論，在ptt社群跟網路上大家這樣說

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C-V 特性曲线（电容电压特性曲线）是用来测量半导体材料和器件的一种方法。当所加电压改变时，电容被测出。方法是使用金属-半导体结（肖特基势垒）或者PN结或者场效应管 ...

4-3-1 C-V 特性. 圖4-1 是SC1 前處理二氧化鉿電容分別在10kHzヽ100kHz 和1MHz 量. 測頻率下的高頻C-V 曲線，測量方式是從反轉區掃到聚積區，從圖4-1(a).

今天我们就来讨论下MOS的C-V曲线与衬底浓度以及GOX特性的关系，这样大家既可以用它来评估GOX特性，也可以用C-V曲线来判定Vt 的Case是由于什么造成的， ...

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理想MOS 曲線（ C-V 圖）聚積情形下，負偏壓加的越多，累積在半導體表面的電洞濃度增加，同時金屬層表面感應之負電荷也增加，電壓僅跨在氧化層上。

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